LumiTop展示用于测试μLED阵列的色度计
材料来源：化合物半导体
在法兰克福的Light+Building（2022年10月2日至6日）上，Instrument Systems将展示其新的LumiTop 4000 2D成像色度计，用于测试AFS应用中的μLED阵列。
12 MP相机同时测量阵列中的单个LED，由于其测量速度快，它避免了高性能LED的温度依赖性。
结合高端CAS 140D光谱仪，该系统——校准为亮度（以cd/m2为单位）——提供高度精确的测量值。特别是，它非常适用于对μLED阵列的均匀性、亮度和颜色进行质量控制。
新的自适应前照灯系统(AFS)使用数个具有10,000个单独光源的μLED阵列。这使得对光束的精确控制成为可能，因为每个μLED都可以被单独控制。对这些高性能LED进行质量检测的主要挑战是开启时温度会立即升高。产生的热量会导致性能下降并导致颜色偏移。因此，用于对阵列的均匀性、亮度和颜色进行质量控制的测量系统面临着双重挑战：测量必须快速进行，同时还必须非常精确，以使测量值的温度独立性不受影响。
Instrument Systems表示，凭借其基于摄像头的LumiTop 4000 2D系统，它提供了一种测量解决方案，由于其高测量速度，可在测量过程中防止温度漂移的影响。此外，该过程与μLED的电流源同步，并在开启LED阵列时立即开始。
与单独测量阵列中每个LED的传统测量方法相比，同时测量的LumiTop系统的速度要快很多倍。由于Instrument Systems的高精度CAS 140D光谱辐射计对系统进行了光谱扩展，它还能通过绝对系统校准提供高精度的读数。
Instrument Systems是一家通过ISO 17025认证的测试实验室，保证了已知精度的可追踪测量值。LumiTop系统以亮度（单位为cd/m2）作为光学量进行校准，并且由于其设计、精度、速度和分辨率，它非常适合AFS应用中的μLED阵列测量。凭借其100毫米镜头，12MPLumiTop相机的最小视野为10x14毫米，适用于实验室和生产线的测量。
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在法兰克福的Light+Building展会上，公司将展示用于应对自适应前照灯系统检测难题的成像色度计
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